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  • 参考报价:电议
    型号:
    产地:意大利
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  • 详细介绍:


    Optino 波前探测系统

    不仅仅是一个波前探测系统,

    更是一个完整光学综合测试系统

    不仅可以用于实验室光学测试,

    也可以适用于生产环境条件

    可测试的光学元件和系统
    • 透镜、非球面透镜
    • 相机、手机摄像等镜头测试
    • 棱镜
    • 球面、非球面、平面镜
    • 各种滤光片
    • 隐形眼镜、眼科镜片
    • 复杂光学系统
    • 平视显示系统(HUD)
    • 研磨板
    • 晶圆(wafer)
    • 激光
    可测试评价的项目
    • 光学失常、像差测试
    • 波前或表面重建
    • 光学元件透过率测试
    • 平面度测试
    • 楔角测试
    • 复杂光学系统对准
    • 准直
    • 焦长测试
    • MTF (调制传递函数)
    • PSF (点扩散函数)
    • Strehl ratio
    • 激光光斑品质、光束、M2、发散角测试

    主要型号及功能特点

    产品系列

    主要特点

    Omi

    基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 原理,基本型,价格优惠

    Optino Uno

    基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 原理,基本型增加一个固定的准直器,用于光源准直。具有所有光学分析所需的基本功能,包含光纤光源。

    • 15 种针对不同测试需求的配置

    • 无隔行快速读出 1Kx1K 相机信号

    • 固定准直器(平行光管)

    • 基本的夏克-哈特曼Shack-Hartmann分析功能:Zernike多项式系数、波阵面、Strehl Ratio 等.

    • 软件根据测到的像散、球差等提供调校指令

    • 根据软件的图形指示,依据参照标准或镜面的CCD像面,对光学元件的焦距进行实时斜率调整

    • 图像分析功能

    • 根据Shack-Hartmann 数据计算MTF、PSF、EE等数据(可选配置)

    • 仿真模拟功能(可选配置)

    Optino Pro 专业版

    具备Optino Uno 功能外, 增加马达驱动的准直器(平行光管),以及先进的软件功能,具备高度自动化。准直器可自动寻找焦点,也可对光束进行分析。

    Optino EE 工程版

    具备Optino Pro 所有功能,具备更强大的软件功能,并经过优化,可以使用生产环境中使用,测试速度快。采用回馈 环路控制,并以10Hz的采样频率进行光学质量测试。

    Optino+ Beam profiler 光束分析

    具备Optino Pro所有功能, 另外加装第二个CCD,用于光斑形貌分析,光束失常及测量可同时在一台设备上实现。

    干涉仪与波前探测系统比较
    Optino 波前测试系统相对于干涉仪的优点
    干涉仪 Optino 波前系统
    1购买、运行、维护费用高非常便宜
    2系统体积大,需要大型光学平台结构紧凑,普通桌子就可以
    3需要昂贵的隔振平台非常耐用,无需隔振,普通桌子就可以,即使重击桌子也不会影响测试结果或仪器性能
    4需要洁净室普通干净的实验室环境足够了
    5需要控制测试现场的气流可以在紧靠打磨机器工作现场使用
    6需要激光光源普通光源或激光均可
    7由于激光波长范围有限,只能工作在有限的几个波长任何波长均可工作,从193nm到1700nm,软件功能不受波长和配置的影响
    8仅限于测试平面、球面及浅度非球面测试可以测试深度非球面元件(球形失常值达50λ
    9不能测试非规则形状元件可以测试非规则元件,如柱面镜
    10动态范围受CCD探测器上干涉条纹限制,方法本身具有高动态特性
    Optino Pro vs. Zygo GPI xp HR Interferometer:

    通过使用Zygo GPI xp HR干涉仪和Spot-Optics公司的Optino 波前测试系统对一个硬盘上小面积(7mm)区域,进行测试对比。

    右图白色圆圈位置的区域即为测试区域,是一个平整的表面,测试的波长为632nm,下图为主要测试得到的参数对比:

    去除了倾斜(Tilt), Piston and 散焦 (defocus)影响后的表面3D形貌图( Zygo ) 去除了倾斜和散焦的3D表面形貌图(Optino)
    由上可见:基于Shack-Hartmann 测试原理的Optino 可以获得与Zygo干涉仪一致的测试结果