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产地：德国 在线咨询
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| 产 品 说 明 | |
| Leica DM ILM倒置显微镜为在金属和工业材料检验的所有检查和测量任务特币设计的.高性能Leica HCS光学系统保证了图像分辨率和反差的**化，得到锐利图像的同时追求**分辨率.而且所有的检查和测量任务可以执行的迅速和高效.技术参数: 学系统HSC无限远校正，明场，偏光放大倍数50×～1000×调焦机构物镜转盘上下移动方式，载物台固定粗微调同轴：向上7mm，向下2mm物镜转盘4孔转盘载物台横方向247mm×纵方向230mm横纵移动手柄同轴，右侧（可要求换为左侧）照明系统插入式滤色片组偏振光组：插入式起偏器及检偏器6V35W卤素灯镜筒双目镜筒，侧面照相100%光线输出镜筒倾斜角30o，眼幅调整范围48～75mm10×宽视野目镜组合物镜5×，10×，20×，50×，100×（干）照相装置1×数码照相接口外型尺寸236（W）×624（D）×407（H）mm重量约10Kg物镜:1.25X-250X目镜:10X，12.5X，16X，25X(视野18mm，20mm)观察方式:明场 偏光物镜转盘:4X M25 明场镜头 载物台:247X230mm尺寸，行程60x40，可配多种载物孔径板摄像方式:可通过C接口进行拍摄，并通过专业软件进行分析测量等工作内置6V 35W，外置12V 100W照明主要特点: 光学设计上采用先进的HC无限远轴向、径向双重色差校正光学技术，彻底消除杂散光等干扰因素；在整个光学系统内， 对涉及成像质量的所有组件(物镜、镜筒透镜、目镜筒、目镜、照相接口等) 进行**化组合，实现图像分辨率和反差的**化，得到锐利图像的同时追求**分辨率。可配多种观察筒，适应不同的要求与检测观察方式，操作简单，检测快捷高效 可选配徕卡各种图像处理及分析软件，包括景深扩展软件，通用图像分析软件，金相分析专用软件 |
