安柏来科学仪器(上海)有限公司
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  • 参考报价:电议
    型号:
    产地:美国
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  • 详细介绍:


    博曼G系列产品概述:

    G系列是博曼**性价比的一款机型。该机型机构紧凑,没有可移动部件。与博曼其他系列不同,该系列X射线照射方式采用自下往上式。用户可将样品放置在一个清晰的测试窗口上,并使用相机对图像进行定位。G系列的样品仓较小,可手动调整样品位置测量样品,该系列主要应用于珠宝和其他贵金属行业的镀层分析与应用。

    G系列标准配置包括一个固定准直器,一个固定焦距的相机,固态PIN探测器和质量可靠的微聚焦X射线管。与其他型号一样,该型号也可升级为包括多个准直器,可变焦点相机和SDD探测器。

    博曼G系列可满足以下类型用户的需求:

    - 样品测试量相对较小

    - 客户或供应商对于镀层提出了新要求

    - 主要分析珠宝或其他贵金属

    - 预留摆放空间小

    - 预算有限

    博曼G系列产品参数:

    类别

    参数

    元素测量范围:

    X射线管:

    探测器:

    分析层数及元素数:

    滤波器/准直器:

    焦距:

    数字脉冲器:

    计算机:

    相机:

    电源:

    重量:

    马达控制/可编程XY平台:

    延伸可编程XY平台:

    样品仓尺寸:

    外形尺寸:

    13号铝元素到92号铀元素

    50 W(50kV和1mA)微聚焦钨钯射线管

    190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器

    5层,每层可分析10种元素,成分分析*多可分析25种元素

    4位置一次过滤器/双规格准直器

    激光单定焦距

    4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正

    英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位

    1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率

    150W,100-240V,频率范围为47Hz至63Hz

    25kg

    不可用

    不可用

    高度:125mm(5"),宽度:380mm(15"),深度:300mm(12")

    高度:400mm(16"),宽度:400mm(16"),深度:380mm(15")

    关于美国博曼:

    美国博曼(Bowman)是高精度台式镀层测厚仪供应商,拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统,可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素,其中任何两层元素可以是合金。同时,博曼XRF系统也可以测量高熵合金(HEAs)。