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系列全量程四探针测试仪

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产品介绍

FT-3671系列全量程四探针测试仪

一.概述：

四探针法，可测微欧到兆欧方阻值量程，采用AD芯片控制，恒流输出， PC软件运行，自动数据测量和系数修正，直读方阻，电阻，电阻率和电导率数据；中文或英文语言版本；具有屏蔽功能；参考美国 A.S.T.M 标准。单晶硅物理测试方法

二.适用范围：

1.导电性新材料、铝箔、铜箔、铝涂层、碳纤维材料、电极材料；

2.一般的涂层材料、薄膜、薄片基底材料研究.

3.大学、研究所、R&D部门对新材料宽量程电阻率或电导性能研究使用.

三.参数资料：

规格型号	FT-3671A经济型	FT-3671B自动型
1.方块电阻范围	10^6～2×10^7Ω/□
2.电阻率范围	10^7～2×10^8Ω-cm
3.测试电流范围	1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA， 100nA ，10nA ， 1nA
4.电流精度	1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA±0.1% ;100nA ，10nA ， 1nA±2%
5.电阻精度	10^2Ω以下量程≤0.5%; 10^2Ω以上量程≤10%;
6.PC软件界面操作	PC软件界面显示：电阻、电阻率、方阻、电导率、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、过程图谱，报表生成.
7.测试方式	手动测量	自动测量
8.工作电源	输入: AC 220V±10%.50Hz功耗：<100W
9.误差	小量程≤4%（标准样片结果）;大量程≤10%
10.校准方式	标准电阻和标准样片
11.测试探头	探针间距选购： 2mm；3mm两种规格; 探针材质选购：碳化钨针、镀金磷铜半球形针