北京泰坤工业设备有限公司
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    型号:
    产地:瑞士
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  • 详细介绍:


    瑞士DECTRIS混合像素光子X射线探测器PILATUS3 R CdTe

    1特点

    PILATUS3 R CdTe系列结合了无噪声单光子计数的优点和在大型碲化镉(CdTe)传感器中直接检测硬X射线的优点。

    与闪烁体的检测器相比,混合像素中的直接检测产生更锐利的信号和更好的空间分辨率。 CdTe为Mo,Ag和In辐射提供接近100%的吸收效率。结合无噪声单光子计数,这将实验室中的X射线检测带入了一个新的灵敏度和准确度水平。

    实验室中的X射线源,尤其是硬X射线的X射线源比同步加速器弱得多,因此需要较长的曝光时间并导致较弱的信号,由于没有暗电流和读出噪音,PILATUS3 R探测器超过了实验室的所有其他技术。单光子计数不含所有其他噪声源以及CMOS电容检测器内置的不准确性,例如复位噪声和非线性电荷响应。相反,由DECTRIS Instant Retrigger Technology提供动力的*快计数电子设备?结合精确的计数率校正提供宽泛的线性范围,完全兼容所有实验室应用和先进的X射线源。

    具有挑战性的实验室应用(如电荷密度研究和配对分布函数分析)依靠硬辐射和具有出色信噪比的数据,PILATUS3 R CdTe探测器系列提供了高效直接探测和无噪声单光子计数的独特组合,并且是实验室中这些要求的**匹配。2、核心优势

    - Mo,Ag和In量子效率> 90%

    - 直接检测*清晰的空间分辨率

    - 没有读出噪音,也没有黑暗信号达到**精度

    - 高动态范围

    - 荧光背景抑制

    - **的计数率

    - 同步辐射证明的辐射硬度

    - 免维护运行

    - 高可靠性:没有容易发生故障的密封或复杂,冷却至室温以下

    3、应用领域

    - 电荷密度分析

    - 配对功能(PDF)分析

    - 高分辨率化学结晶学

    - 高压/高温XRD

    - 关键尺寸SAXS

    - 计算机断层扫描(CT)

    - 无损检测(NDT)

    4、技术参数:

    PILATUS3 R CdTe

    300K

    300K-W

    探测器模块数量

    1 × 3

    3 x 1

    有效面积:宽×高 [mm2]

    83.8 × 106.5

    253.7 x 33.5

    像素大小 [μm2]

    172 x 172

    总像素数量

    487 × 619

    1475 × 195

    间隙宽度, 水平/垂直(像素)

    *每个模块之间水平间隙增加1个像素

    - */ 17

    7* / -

    非灵敏区 [ % ]

    5.7

    1.1

    缺陷像素

    < 0.1%

    **帧频 [Hz]

    20

    读出时间 [ms]

    7

    点扩散函数

    1 pixel(FWHM)

    计数器深度

    20 bits(1,048,576 counts)

    功耗 [W]

    30

    尺寸(WHD)[mm3]

    158 x 193 x 262

    280 x 62 x 296

    重量 [kg]

    7.5

    7.0

    模块冷却

    水冷

    外接触发电压

    5V TTL