X射线残余应力分析仪

采用***的瑞士DECTRIS公司的线阵MYTHEN2 R探测器。速度快，线性好。

主要技术参数:

★测量方法：侧倾固定ψ法，摆动法，残奥测定，织构测定。

定峰方法：交相关法，半高宽法，抛物线法，重心法。

仪器精度：采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射，铁粉（211）晶面，衍射角2θ测定误差 在±0.015°以内；铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。

★测角仪型式：θ-θ扫描ψ测角仪

★２θ扫描范围：120°～170°；

２θ扫描***小步距：0.01°

２θ扫描每步计数时间：0.1S～20S

ψ角范围：0°～ 65°

ψ角摆动角度：0°～±6°

X射线管电压：15～30kV，连续可调

X射线管电流：3～10mA，连续可调

X射线管靶材：Cr， Co， Cu， 其中Cr靶为常备，其余供选购。

衍射几何：聚焦法

准直管直径：提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。

测角仪重量：10 kg

简装置总重量：45 kg

供电要求：AC 220V±10%，1000W，50Hz