参考报价:电议 型号:
产地:美国 在线咨询
|
激光粒度分析仪S3500-Microtrac
技术参数:﹡测量范围:0.01μm-2,800μm; 测量精度:0.6%; 测量时间:10-30 秒; 所需样品量:0.05-2g;兼容性:与任何常用有机溶剂兼容﹡光源: 三束3mW 780nm固体二极管激光器, 电脑控制自动校准; 准直功能:电脑控制自动对光;
光路:固定光学平台,傅利叶光路结合双透镜技术﹡接受角度:0.02-163°; 检测器:高灵敏硅光电二极管; 检测器数量:151个对数方式优化排列﹡操作灵活:兼容Windows 98, 2000, NT和XP等操作系统; 报告格式:体积,数量和面积分布,包括积分/微分百分比和其他分析统计数据。数据以ODBC形式输出兼容其他统计分析软件和文字处理软件; 安全性:数据的完整性符合21 CFR PART 11 安全要求﹡环境要求:温度10-35℃; 相对湿度:小于90%; 电源要求:90-240 VAC, 5A,50/60Hz; 主机尺寸:高度825px, 宽度1397.5px, 深度937.5px, 重量25Kg﹡标准化:符合ISO 13320-1 激光粒度分析国际标准﹡完整配置:固定光学平台, 样品分散系统, 计算机/打印机, 数据处理软件主要特点:﹡**Tri-Laser激光系统, 完全消除了不同波长光源对颗粒散射光分布“连接点”的影响和
多次米氏理论(Mie Theory)数学处理的误差(米氏理论处理与波长有关)。﹡**“Bluewave”激光技术,拓展测量下限至0.01μm。﹡无需扫描,同步接受全量程散射光信号,保证分析结果的高重现性及全量程范围的高分辨率。﹡**引进“非球形”颗粒概念对米氏理论计算的校正因子,内置常用分析物质光学数据库,提高颗粒粒度分布测试的准确性。﹡系统自动对光,内置辅助光源用于检验和校正检测器的灵敏度。﹡多种样品分散系统可供选择,各种分散系统之间的转换简单方便,结果稳定一致。﹡现代模块式设计,可根据实际应用需要允许选择仪器的配置,以满足将来的任何需要。﹡数据处理灵活方便,体积分布,数量分布和强度分布,微分与累计百分比以及其他综合报告形式任意组合,数据存储兼容性强。﹡NIST(National Institute of Standards & Technology)标准物质指定认证仪器。
技术指标:
测量范围:0.01-2800um (有多种测量范围可选择)
图像测量范围:0.75-2000um
光源:
激光衍射: | **三束固体激光器 |
动态图像分析: | 高性能频闪LED |
分析时间:
激光衍射: | 10-30S |
动态图像分析: | 1 Minute |
检测系统:
激光衍射: | 接受角度: 0.02-163° |
检测器:151个检测单元,以对数方式优化排列的高灵敏硅光电二极管 | |
信号采集:无需扫描,实时接受全量程散射光信号 | |
动态图像分析: | 像素5M,图像分辨率2456×2058,15图片/秒(可选配高速相机) |
操作软件:提供强大的数据处理能力,包括图形,数据输出/输入,个性化输出报告及各种文字处理功能,数据的完整性符合21 CFR PART11安全要求。