佳士科商贸有限公司
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  • 参考报价:电议
    型号:
    产地:日本
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  • 详细介绍:


    概要

      自动**反射率测量装置一边变化照到样品的入射角,一边测量反射率以及透过。用于太阳能电池零件,半导体,薄膜,光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量。入射角通过旋转样品台设定,受光角通过滑动积分球控制。另外,能用非同步方式分别设定入射角和受光角。而且,根据任意设定P偏光和S偏光角度,能研究样品的偏光特性。

    可选择用在紧凑的中型机种V-600系列紫外可见近红外分光光度計上,也可以选择用在适合高分辨率,高吸光度测量的V-7000系列紫外可见近红外分光光度计上。

    装置特点

    ?PC直接控制设定角度及光谱测量等条件?测量范围广,从紫外到近红外区域?双光束光学系统,测光稳定性好?可分别控制入射角、受光角?标配偏光测量功能?专用的样品池支架,样品的装卸简单

    规格

    ARMV-734/ARMN-735 自动**反射测量组件V-600用)

    型号

    ARMV-734

    ARMN-735

    测定波长范围

    250850nm

    2502000nm

    测量方式

    测量**反射率、测量

    入射角

    60°(测量**反射率)、 60°(测量) 0 ~ 85(大入射角样品支架选项)

    角度间隔

    0.1°间隔

    设定方式

    同期、非同期(入射部和受光部)

    测量偏光

    S 偏光( 0°)P 偏光( 90°)N 偏光( 45°)、任意设定

    ARMV-734用于V-650,660ARMN-735用于V-670

    VAR-7010/7020/7030 自动**反射测量组件V-7000用)

    型号

    VAR-7010

    VAR-7020

    VAR-7030

    测量波长范围

    250900nm

    2502000nm

    2501800nm

    测定方式

    测量**反射率测量透过率

    入射角

    60°(测量**反射率)、 60°(测量透过) 0 ~ 85(大入射角样品支架选项)

    角度間隔

    0.1°间隔

    设定方式

    同期、非同期(入射部和受光部)

    测量偏光

    S 偏光( 0°)P 偏光( 90°)N 偏光( 45°)

    VAR-7010用于V-7100VAR-7020用于V-7200 VAR-7030用于V-7300