基于Phasics**的四波横向剪切干涉技术和焦平面非冷却相机的SID4 LWIR工作范围在长波红外8-14μm，结构紧凑，易于集成到光学平台用于长波红外激光束和光学元件测试。

SID4-Swir 光学器件测量激光束测试

特点：

由于其独特的**技术技术，Phasics的SID4-LWIR波前传感器具备以下特点：

1.高分辨率：160x108测量点

2.高发散光测量：无需转接透镜

3.消色差：8-14μm

4.紧凑：易于集成

应用：

元器件测试：SID4 LWIR波前分析仪实时测量光学元件MTF和畸变。适用于热成像目标，安防，安防视觉。无色差，易于集成。

激光束测试：SID4 LWIR能用于测试光束特性（M2、Strehl比、强度分布，光束参数…）。也适用于远红外光束测量如CO2激光器、红外OPO激光源…

SID4-Lwir产品参数：