上海屹持光电技术有限公司
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  • 参考报价:电议
    型号:
    产地:法国
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  • 详细介绍:


    SID4 IR-MCT集成了 Phasics四波横向剪切干涉**技术和新一代冷却MCT探测系统。这种独特的波前像差分析仪提供了一个非常高分辨率和超高灵敏度,波长范围跨越中波和短波红外范围(从1.25.5μμm m)。非常适合微弱光红外光源,如物镜和透镜测试的黑体源或FTIR激光束测量。

    SID4 IR-MCT 光学元件测量激光测量

    特点:

    由于其独特的**技术技术,PhasicsSID4 IR-MCT波前传感器具备以下特点:

    1.高分辨率160x128测量点

    2.高灵敏密度3nmRMS@3μW/cm2

    3.宽光谱消色差1.2-5.5μm

    4.高精度:即便在极度微弱光情况下

    5.高数值孔径:高达F/1且不需要转接透镜

    6.**一代冷却MCT探测器

    应用:

    光学测试:SID4 IR-MCT是表征红外目标和镜头的非常好的设备,能提供MTF数据以及实时测量畸变和WFE。它的高灵敏度可用于黑色体频谱滤波的高光谱测试工作。

    激光束测量:SID4 IR-MCT是**的具备微光红外源的测试设备,如量子级联激光或FTIR激光。能完整表征光束参数(像差,M2,强度分布,光束参数…)。

    SID4 IR-MCT产品参数:

    波长范围

    1.2-5.5μm

    通光孔径

    9.6 x 7.68 mm2

    空间分辨率

    60 μm

    采样点(相位/强度)

    160 x 128 (> 19 000 points)

    相位相对灵敏度

    3nm RMS@3μW/cm2

    **数值孔径

    F/1

    动态范围

    300μm

    采样频率

    140 fps

    实时分析频率

    20 fps (full resolution)

    数据接口

    Giga Ethernet

    尺寸(w x h x l)

    135 x 140 x 240 mm

    重量

    3.5kg