Phasics利用其四波横向剪切干涉技术，在紫外波前测量提供了优良的解决方案。它有非常高空间分辨率（250x250测量点）和高灵敏度（2 nm RMS）。这确保了UV镜头，表面和UV激光束测试的精确性。由于它小巧，易于使用，能有效地适应各种实验条件。

SID4-UV 光学器件测量自适应光学

特点：

由于其独特的**技术技术，Phasics的SID4 UV波前传感器具备以下特点：

1.超高分辨率：250x250测量点

2.高灵敏度：2nm

3.直接测量：测量光学元件和发散光无需中继透镜

4.高性价比：光束和透镜测量高性价比解决方案

应用：

SID4 UV紫外波前传感器提供应用：

紫外激光器：光束测试与校正

紫外镜头的质量控制：个镜头的MTF和畸变，容易且准确的离轴测量

表面检查：曲率半径，三维形状

SID4 UV产品参数：