迈可诺技术有限公司
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  • 参考报价:电议
    型号:
    产地:英国
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  • 详细介绍:


    这款四点探针系统是一款易于使用的工具,用于快速测量材料的薄层电阻,电阻率和电导率。通过使用我们自己的源测量单元,我们能够创建一个低成本的系统,使测量范围更广泛。探头采用弹簧加载接触,而不是尖锐的针头,防止损坏精密样品,如厚度在纳米左右的聚合物薄膜。

    四点探针系统为您的研究提供以下益处:

    ?广泛的薄膜电阻测量范围,从10mΩ/□到10MΩ/

    ?弹簧加载的探针保护易损的样品免受损坏

    ?体积小巧,可用于空间有限的繁忙实验室

    ?易操作的PC软件,用于薄膜电阻,电阻率和电导率的测量

    ?使用自动校正因子计算加快材料表征

    ?使用保存设置可轻松重复测量

    特征:

    广泛的测量范围 - 四点探头能够提供10 nA-100 mA的电流,并且可以测量低至100μV-10 V的电压。广泛的薄层电阻测量范围,从10mΩ/□到10MΩ/□,可表征多种材料。

    非破坏性测试 - 设计时考虑到了精密样品的测量,四点探头采用镀金弹簧接触圆头, 60克的恒定接触力,防止探针刺破脆弱的薄膜,同时仍能提供良好的电接触。

    节省空间的设计 - 通过垂直堆叠组件,我们能够将四点探头的占地面积降至*低(总台面面积12 cm x 30 cm),甚至可以在缺乏货架空间的实验室中使用。

    易于使用 - 只需插入系统,安装软件,即可开始使用!直观的界面和清洁的设计,简化了薄膜电阻的测量。

    快速材料表征 - PC软件可执行薄膜电阻,电阻率和电导率所有必要的测量和计算,从而使材料表征变得毫不费力。

    不要忘记保存您的实验数据 - 用于测量的设置会与数据一起保存,从而轻松查看实验的详细信息。此外,这些设置文件可以通过相同的软件加载,加快重复测量和材料表征。用更少的时间重复测量,您的研究成果可以显着增加

    应用示例:

    材料特性 - 电阻率是材料的固有特性,也是重要的电学特性。它可以通过测量已知厚度的薄膜薄层的电阻来确定,这使得四点探针测量成为材料电特性的关键技术。

    薄膜太阳能电池和发光二极管 - 薄膜器件(如钙钛矿太阳能电池或有机发光二极管)需要薄的导电电极,横向输送电荷以进行提取。因此,需要低表面电阻材料来减少这个阶段的潜在损失。当试图放大这些设备时,这变得更加重要,因为电荷在它们可被提取之前,不得不沿着电极方向行进。

    测量规格

    电压范围

    100μV至10 V

    当前范围

    10 nA到100 mA

    薄层电阻范围

    10mΩ/□至10MΩ/□

    测量精度

    < ±4%

    测量精度

    ±0.5%