微区电化学阻抗测试系统LEIS370/470

微区电化学阻抗测试系统LEIS370/470

应用:

* 薄膜阻抗复杂成像

* 池生长介质直接成像

* 光点化合反应特征化

* 电池

* 传感器

* 金属以及合金的钝化

* 燃料池

* 腐蚀