奥谱天成(厦门)光电有限公司
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  • 参考报价:电议
    型号:
    产地:福建
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  • 详细介绍:


    产品概述

    ATP5104是奥谱天成针对紫外光谱,特别研制的高性能紫外增强型微型光纤光谱仪,它采用3072像素的紫外增敏线性CCD,可以适应165-1100nm波长范围的测试,CCD检测器曝光时间可以控制在1ms之内,同时,奥谱天成为ATP5104特别定制了超低噪声CCD信号处理电路,其量化噪声小于3 counts,为业界**水平,可以帮助您可以获得极高的光谱信噪比。

    ATP5104是紫外、可见、近红外光谱应用的理想选择,有不同的狭缝、光栅、反射镜、滤光片可以选择,可以根据您的需求,配置适合不同应用场合的光谱仪,光谱范围从165nm起至1050nm,光谱分辨率可在0.5到4.0nm之间选择,奥谱天成也可为OEM客户提供定制选择。

    ATP5104可以接收SMA905接口光纤输入或者自由空间输入的待测光,根据设定的积分时间进行测量,将测量结果通过USB2.0(高速)或者UART输出;

    特点:

    • 紫外增强高性能背照式CCD

    • 专门针对紫外优化的光路和结构;

    • 探测器:背照式CCD

    • 探测器像素:3072

    • 超低噪声CCD信号处理电路

    • 光谱范围: 165-1100 nm

    • 光谱分辨率: 0.1-4 nm(取决于光谱范围、狭缝宽度)

    • 光路结构:交叉C-T

    • 积分时间:2ms-130s

    • 供电电源:DC 5V±10% @ <2.3A

    • 18 bit, 570KHz A/DConverter

    • 光输入接口:SMA905或自由空间

    • 数据输出接口: USB2.0(High speed)或UART

    • 20针双排可编程外扩接口

    典型应用:

    • 拉曼光谱仪

    • 微量、快速分光光度计;

    • 光谱分析/辐射分光分析/分光光度分析

    • 透过率、吸光度检测;

    • 反射率检测;

    • 紫外、可见和短波近红外

    • 波长检测

    探测器

    类型

    线阵背照式CCD

    探测光谱范围

    165-1100 nm

    有效像素

    3072

    像元尺寸

    600μm×8μm

    全量程范围

    ~200 ke-

    灵敏度

    6.5 uV/e-

    暗噪声

    6 e-

    光学参数

    波长范围

    165-1100 nm

    光学分辨率

    0.1-4 nm (取决于狭缝、光谱范围)

    性噪比

    >1000:1

    动态范围

    3000:1

    工作温度

    -10-40 oC

    工作湿度

    < 85%RH

    光路参数

    光学设计

    f/4 交叉非对称C-T光路

    焦距

    40 mm for incidence / 60 mm for output

    入射狭缝宽度

    5、10、25、50、100、150、200 μm 可选,其他尺寸可定制

    入射光接口

    SMA905光纤接口、自由空间

    电气参数

    积分时间

    1 ms - 130 second

    数据输出接口

    USB 2.0

    ADC位深

    18 bit

    供电电源

    DC 5V±10%

    工作电流

    <2.3A

    存储温度

    -20°C to +70°C

    操作温度

    -10°C to +40°C

    物理参数

    尺寸

    102×720×34 mm3

    重量

    0.3 kg

    Sealing

    Anti-sweat