·波长测量范围：1265~1335 nm
·10um空间分辨率
·100m长度测量范围（可升级）
·无需校准，稳定性好
·模块化，方便集成维护
·支持软硬件定制，功能升级
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参考报价：电议 型号：
产地：湖北 在线咨询
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OCI1300是一款超高精度的光纤断点检测、损耗测量仪器。其原理基于光频域反射技术与光外差检测技术相结合，实现100m测量范围内的空间分辨率可达10um。本产品可在待测光纤链路中轻松查找判别宏弯、接头、暗纹、连接点和断点，精准测量插损、回损。非常适合硅光芯片、光纤微结构的定量测试和品质监测，以及光纤长度测量，其中测量精度可达0.1mm，并可扩展分布式温度应变测量。
产品特点
·波长测量范围：1265~1335 nm
·10um空间分辨率
·100m长度测量范围（可升级）
·无需校准，稳定性好
·模块化，方便集成维护
·支持软硬件定制，功能升级
主要应用
光通信测量：
·光器件、光模块测量
·硅光芯片测量
·光纤长度、暗纹测量
光纤传感测量
·光纤干涉仪延时测量
·光纤光栅
·光纤微结构
参数
| 类别 | 指标 | 单位 | ||
| 基础 | 测量范围1 | 50 | 100 | m |
| 空间分辨率 | 10 | μm | ||
| 回损测量范围 | -125~0 | dB | ||
| 灵敏度 | -130 | dB | ||
| 回损动态范围 | 80 | dB | ||
| 插损动态范围 | 18 | dB | ||
| 插损回损分辨率 | 0.05 | dB | ||
| 插损回损精度 | ±0.1 | dB | ||
| 盲区 | 无 | - | ||
| 测量时间2 | <8 | <12 | s | |
| 光谱 | 波段3 | 1265~1340 | nm | |
| 波长分辨率 | 0.03 | pm | ||
| 波长重复精度 | ±1.0 | pm | ||
| 群延时 | 精度 | 1.0 | ps | |
| 干涉仪延时测量4 | 测量长度 | 50 | 100 | m |
| 重复精度5 | 0.1 | mm | ||
| 硬件 | 输出光功率 | <5 | mW | |
| 输入电压 | AC 220/110V; DC 12V | - | ||
| 主机功率 | 60 | W | ||
| 通讯接口 | USB | - | ||
| 光纤接口 | FC/APC | - | ||
| 尺寸 | 390 x 350 x 158 | mm | ||
| 重量 | 7.5 | KG | ||
长度可升级定制 ；
不同模式的测量时间不同；
可定制其他波段；
实际测量值为延时，输入折射率可得到臂差值；
高精度模式；