· 可实现从器件到光学链路全范围的精确插损、回损、长度测量
· 长度测量范围为10m，精度可达毫米量级，空间分辨率为20μm
· 非常适用于定量分析，品质监测及故障诊断
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参考报价：电议 型号：
产地：湖北 在线咨询
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OCI-T光学故障测量仪具有功能齐全、性价比高等特点，可实现从器件到光学链路全范围的精确插损、回损、长度测量。长度测量范围为10m，精度可达毫米量级，空间分辨率为20μm。非常适用于定量分析，品质监测及故障诊断。
· 可实现从器件到光学链路全范围的精确插损、回损、长度测量 · 长度测量范围为10m，精度可达毫米量级，空间分辨率为20μm · 非常适用于定量分析，品质监测及故障诊断
· 无源器件测量 · 光学链路测量
类别 指标 单位 长度测量 测量范围 10 20 m 空间分辨率 20 μm 回损测量 回损动态范围 65 dB 回损灵敏度 -130 dB 回损测量精度 ±0.5 dB 插损测量 插损动态范围 15 dB 插损测量精度 ±0.5 dB 光谱范围 波段 C band - 测量时间 单次测量时间 0.2 s 硬件信息 输入电压 AC 220/110V；DC 12V - 通讯接口 USB - 光纤接口 FC/APC - 尺寸 390 x 340 x 158 mm 重量 7.5 kg