俄罗斯对外电子公司北京代表处
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  • 参考报价:电议
    型号:
    产地:俄罗斯
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  • 详细介绍:


    鉴于FSM1201型傅立叶红外光谱仪是一种通用型的仪器,配置适中,是基础科研以及以及常规检测必备分析工具。FSM1201型样品室是标准大尺寸,可以适用多种配套附件和装置,包括ATR衰减全反射附件水平衰减全反射附件, 漫反射附件、镜面全反射附件、恒温气体样品池等,也可以实现TG-FTIR热重红外连用技术等

    FSM1201型主要技术指标:

    光谱范围, cm -1

    4007800

    光谱分辨率 cm -1

    1

    信噪比, 1min, 4cm -1

    >20000

    图谱采集时间, 4cm -1

    1 sec

    分束器材料

    KBr Ge镀层

    检测器

    LiTaO3

    样品室尺寸,mm

    150х190х170

    仪器尺寸, mm

    520х370х250

    仪器重量, kg

    28

    FSM1201型基础科学应用案例:

    文献资料:Correlations in Infrared Spectra of Nanostructures Based on Mixed Oxides

    ISSN 1063-7834, Physics of the Solid State, 2015, Vol. 57, No. 12, pp. 2373–2381. . Pleiades Publishing, Ltd., 2015.

    标题:基于混合氧化物的纳米结构的红外光谱图相关性的研究

    简介:采用SnO2-SiO2体系Sol-Gel溶胶—凝胶技术制造用于传感器的纳米薄膜,用INFRASPEK FSM 1201型傅立叶红外光谱仪及配套MNPVO36ATR衰减全反射附件测定不同组成的溶胶图谱并找出相关性(图1)。为解决氧化硅基底强吸收峰的背景影响,对纳米薄膜红外图谱采集通过配套的PZO30镜面反射附件完成(图6)。

    FSM1201型常规检测适用标准:

    ASTM D 4053ASTMASTM D 5845ISO 7106ISO 4650ISO 9622ISO 13884ASTM D 2124ASTM D 2238ASTM D 2357ASTM D 2702ASTM D 3124ASTM D 3414ASTM D 3594ASTM D 3677ASTM D 3900ASTM D 3921ASTM D 4660ASTM D 5576ASTM D 5594ASTM D 5670ASTM D 6047ASTM D 6248ASTM D 6342SEMI MF1188SEMI MF1391SEMI MF951SEMI MF95

    部分附件描述:

    MNPVO36ATR衰减全反射附件

    用于研究液体、粉末、薄膜的化学成分。该方法大幅度简化了制样过程,适用于快速检测产品质量。

    主要性能:

    - 7次内部反射保证对低浓度高灵敏的测定;

    - 标准材料为ZnSe,可以定制Ge或者Si

    - 吸收层选用厚度为1~50微米;

    - 光谱测量时间1~2分钟。

    PZO30型镜面反射附件

    镜面反射红外光谱法是用于研究薄膜镀层的一种理想的分析方法。无需样品预处理就可以进行表面和薄膜的无损检测并测定薄膜厚度。根据镀层厚度选用相应的镜面反射的角度,我供应附件从1080°反射角。

    片状糊状样品分析附件

    液体样品分析附件

    气体样品分析附件