产品名称

CM100膜厚仪

主要特点

1.操作简单，使用方便

2.测量快速、准确

3.体积小、重量轻，便携式

4.高性价比无损测量

技术参数

1.光谱范围：370-1000nm

2.光谱分辨率：1.6nm

3.测量光斑：典型1.5mm

4.**样片厚度测量范围：15nm- 100μm

5.膜厚测量重复性：0.1nm

6.测量膜层数目：4层

7.准确度：2nm或0.4%

8.单次测量时间：典型1-2秒