SGW X-4数字熔点仪
技术参数：
SGW X-4数字熔点仪主要技术参数：
熔点测量范围：室温至320℃
测量重复性：±1℃（在≤200℃时） ±2℃（在200-300℃时）
光学放大倍数：目镜：10X，物镜：4X
主要特点：
SGW X-4数字熔点仪特点:
测定物质的熔点。
用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片——盖玻片法（热台法）测定。
