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拉曼-扫描电镜联用系统使您能够在单一系统内全面地原位表征样品性能。雷尼绍结构与化学成分分析仪(SCA)接口使扫描电镜(SEM)具有了inVia的拉曼分析能力。
inVia和SCA接口提供了一种SEM内的分析技术,既补充了以光学显微镜为基础的拉曼光谱,又克服了X射线能量散射谱(EDS)作为传统SEM内的分析技术的局限性。采用雷尼绍SEM-拉曼联用系统,您将受益于定位共同点的形貌、元素、化学、物理和电子分析。
联用系统优势:
原位测量。无需在不同仪器之间移动样品,节约时间,保证正确的分析区域。
inVia和SEM可同时作为独立系统使用,而不会影响两者的任何性能。
得到丰富的样品信息。使用SEM记录样品的高分辨图像,并进行元素分析。增加拉曼分析样品化学信息的能力,以识别材料和非金属化合物。
还可进行光致发光(PL)和阴极射线发光(CL)光谱测试。
雷尼绍SCA接口具有非常高的普适性,可以配备到您现有的SEM上,基本不需要对SEM进行改装。SCA可以安装到所有主要供应商提供的SEM上,包括:
Zeiss
FEI
TESCAN
JEOL
Hitachi