雷尼绍(上海)贸易有限公司
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  • 参考报价:电议
    型号:
    产地:英国
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  • 详细介绍:


    您可以将inVia拉曼的能力与扫描探针显微镜(SPMAFM)联用,在纳米尺度上研究材料的组成、结构和特性。

    联用系统优势:

    1. 原位测量。无需在不同仪器之间移动样品,节约时间,保证正确的分析区域。

    2. inViaSPM/AFM可同时作为独立系统使用,而不会影响两者的任何性能。

    3. 得到丰富的样品信息。使用AFM记录样品的形貌及相关物理特性。增加拉曼分析样品化学信息的能力,以识别材料和非金属化合物。

    4. 可实现针尖增强拉曼测量(TERS),获得纳米尺度的化学信息。

    选择**的系统:

    雷尼绍特殊设计的灵活的耦合臂可以用于将inViaSPMAFM光学整合。inVia具有极大的灵活性,能够将其直接耦合到如下供应商的各种AFMSPM上:

    • Bruker Nano Surfaces

    • Nanonics

    • NT-MDT

    • JPK

    • Park