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光谱 SiC外延体相表相无损缺陷分析
报价:面议
品牌: 上海英生
产地: 上海
关注度: 510
型号: 光谱 SiC外延体相表相无损缺陷分析
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产品介绍

July 04, 2023 – 微波探测空间分辨率低,仅为mm级别,无法获得载流子寿命精确分布成像。采用全新瞬态吸收光谱成像技术,利用高速相机实现载流子衰减动力学的成像,无需扫描样品!检测速度大幅提升

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上海英生电子科技有限公司为您提供上海英生光谱 SiC外延体相表相无损缺陷分析,光谱 SiC外延体相表相无损缺陷分析产地为上海,属于元素分析仪,除了光谱 SiC外延体相表相无损缺陷分析的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供AM1.5双灯源连续型太阳光模拟器、B320 电化学反应可视化共焦系统、超快瞬态吸收显微镜系统。
工商信息
企业名称

上海英生电子科技有限公司

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信用代码

91310113MA1GNFHU3T

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