采用可控压四线制双探头电阻法，基于高精度位移、电压电流压力、温湿度传感，实现持续、精准、稳定监测极片**条件下电阻特性。
L3：极片电阻测试的必要性
技术发展迭代 Technologydevelopment iteration
基材/极片电阻测试原理 Principle of substrate/electrode resistance test
解决方案1：极片整体电阻测试（G2, G2A, G2R）
解决方案2：底涂电阻&面密度等综合测试系统（G3）
解决方案3：极片整体电阻测试&涂层电阻分解 (Magic 3R)
测试系统参数Test System Parameters
测试系统概览 Test System Overview
测试系统概览Test System Overview
测量系统控制模式介绍 Introductionto the control mode of the measuring system
产品特色与优势Features And Advantages
可靠性分析（R&R）Reliability Analysis (R&R)
应用领域与方向 Application Areas And Directions
涂炭基材开发评估与生产环境控制参数指导
极片配方开发评估 Evaluation of Electrode Tablet Formulation Development
Step Mode_压力加载与缓释控制模式下极片电阻分析
连续线性模式_不同生命周期极片评估
生产制程稳定性监控 Production Process Stability Monitoring
不同温度极片电阻分析 Resistance Analysis Of Pole Pieces At Different Temperatures
极片电阻正反面分解
测试系统参数Test System Parameters
