Xplore TEM是专门为120kV和200kV 透射电镜（TEM）的常规应用而设计的元素分析系统。使用新的 80mm2 传感器和聚合物薄窗口及低噪音电子元器件 , 为用户提供快速和准确的元素表征。
0.1 - 0.4 srad的立体角
从Be到Cf的元素检测
可在200,000cps的计数率下进行定量分析
SATW窗口为广泛的应用提供了极大的便利性
