Zetatronix 系列纳米粒度及Zeta电位分析仪用于测量颗粒粒度与Zeta电位。纳米颗粒由于粒径十分细小，其表面的晶体结构发生变化，从而在电学、光学和化学活性等方面表现出独特的性能。粒径大小是表征纳米材料性能的重要参数，准确了解颗粒粒度是控制纳米材料性能的关键。Zeta电位是表征胶体分散系稳定性的关键参数，Zeta电位越高，胶体系统就越稳定，反之，Zeta电位越低，胶体系统稳定性就越差，因此通过测量和调整体系的Zeta电位，就可以控制胶体的稳定性。因此，Zetatronix 系列纳米粒度及Zeta电位分析仪广泛应用于产品开发、生产、质量控制以及科学研究。

技术类型	Zetatronix 939系列 查看详情 采用多角度动态光散射技术，提供更高分辨率的粒度测量结果	Zetatronix 929系列 查看详情 采用背向动态光散射技术，可以测量高浓度样品的粒度	Zetatronix 919系列 查看详情 采用经典动态光散射技术测量粒度
经典动态光散射（DLS）	√		√
背向动态光散射（BSDLS）	√	√
多角度动态光散射（MADLS）	√
测量角度	11°、90°、175°	11°、175°	11°、90°
测量类型
粒度	√	√	√
Zeta电位	√	√	√
分子量	√		√
温度/时间趋势	√	√	√