成都泰美克晶体技术有限公司
  • 泰美克
    参考报价:电议
    型号:晶圆厚度测量机
    产地:四川
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  • 详细介绍:


    产品介绍

    专用于弹夹式供料,自动上料、视觉定位、厚度测试,距离测试、自动下料的高精度晶圆厚度测试机,同时机器可满足百级无尘要求。

    ● 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测。

    ● 采用分光干涉法实现高度检测再现性。

    ● 可进行高速的即时研磨检测。

    ● 可穿越保护膜、观景窗等中间层的检测。

    ● 可对应长工作距离、且容易安裝于产线或者设备中。

    ● 可对应线上检测的外部信号触发需求。

    ● 采用*适合膜厚检测的独自解析演算法(已取得**)。

    ● 可自动进行膜厚分布制图(选配项目)。

    产品规格

    指标规格
    膜厚测量范围0.1 μm ~ 1600 μm※1
    膜厚精度±0.1% 以下
    重复精度0.001% 以下
    测量时间10msec 以下
    测量光源半導体光源
    测量口径φ27μm※2
    WD3 mm ~ 200 mm
    ※1 随光谱仪种类不同,厚度测量范围不同※2 *小φ6μm
    名称自动Mapping系统
    样品台方式X-Y样品台
    光学系测量探头 CCD相机
    **晶圆尺寸150mm以下
    晶圆角度补正
    Pattern对准
    晶圆厚度范围视分光干涉式晶圆厚度传感器的式样而定
    设备尺寸1000mm×900mm×2000mm
    设备重量750kg