近日，奥来德上海光电材料有限公司技术人员携柔性碳材料膜样品到访苏州晶格，现场完成一组方阻实测验证。技术工程师王工接待并全程演示。

测试设备：ST2263双电测数字式四探针测试仪

该仪器采用双电测原理，可有效消除探针不等距带来的数据偏差，无需形状位置修正，精度优于常规单电测仪器；配套软件支持数据保存、统计分析与报告输出。

现场直击两个关键问题

Q1：能否固定电流测方阻？

可以。固定电流测试建议选用ST2253A单电测四探针测试仪，支持手动切换电流量程。客户现场上手切换多档量程，直观观察方阻随电流变化的响应。

Q2：如何判定材料方阻值？

以仪器自动切换电流值下测得的方阻为准。

选型参考

· 样品多、求效率 → ST2253A单电测，出结果快，与ST2263结果相差不大

· 求更高精度 → ST2263双电测，出数据稍慢，精度略高

具体选型，看样品数量与精度要求。

客户离场时表示：样品已测完，回去讨论后再定采购事宜。

关于ST2263

依据现行标准GB/T 1551-2021《硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法》。

苏州晶格电子有限公司（JG晶格）专注材料导电性能测试仪器，产品线覆盖四探针电阻率测试仪、粉末电阻率测试仪、超高阻微电流测试仪等，为GB/T 40007-2021起草单位之一。碳材料膜、薄膜涂层方阻测试，支持样品寄测或携样到现场测试。