大塚电子(苏州)有限公司
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  • 大塚电子
    参考报价:电议
    型号:RE-200
    产地:江苏
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  • 详细介绍:


    产品信息

    特 点

    • 可测从0nm开始的低(残留)相位差
    • 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.)
    (相当于世界*快速的0.1秒以下来处理)
    • 无驱动部,重复再现性高
    • 设置的测量项目少,测量简单
    • 测量波长除了550nm以外,还有各种波长
    • Rth测量、全方位角测量
    (需要option的自动旋转倾斜治具
    • 通过与拉伸试验机组合,可同时评价膜的偏光特性和光弾性
     (本系统属特注。)

    测量项目

    • 相位差(ρ[deg.], Re[nm])
    • 主轴方位角(θ[deg.])
    • 椭圆率(ε)・方位角(γ)
    • 三次元折射率(NxNyNz)

    用 途

    • 位相差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种功能性膜
    • 树脂、玻璃等透明、非均质材料(玻璃有变形,歪曲等)

    原 理

    • 什么是RE-200
    • RE-200是光子结晶素子(偏光素子)、CCD相机构成的偏光计测模块和透过的偏光光学系相组合,可高速且高精度的测量位相差(相位差)、及主轴方位角。CCD相机1次快门获取偏光强度模式,没有偏光子旋转的机构,系统整体上是属于小型构造,长时间使用也能维持稳定的性能。

    仕 样

    型号

    RE series

    样品尺寸

    *小10×10mm ~**100×100mm

    测量波长

    550nm (标准仕样)※1

    相位差测量范围

    约0nm ~约1μm

    轴检出重复精度

    0.05°(at 3σ) ※2

    检出器

    偏光计测模块

    测量光斑直径

    2.2mm×2.2mm

    光源

    100W 卤素灯或 LED光源

    本体・重量

    300(W) × 560(H) ×430(D) mm 、约20kg

     Option
    • Rth测量、全方位角测量※治具本体(旋转:180°, 倾斜:±50°)
    • 动旋转倾斜治具