Zeta-APS高浓度纳米粒度仪及Zeta电位分析仪

仪器简介：

Zeta-ASP是高浓度胶体和乳液的特性参数检测仪，可以测试：粒径、Zeta电位、滴定、电导等。

此仪器容易使用、测量精确。对于高达60%(体积)浓度的样品，也无需进行稀释或样品前处理，即可直接测量甚至对于浆糊凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量。 

结构设计紧揍，外置的Zeta电位滴定装置(可选配)自动摘定装置可自动、快速地判断等电点，可快速得到**分散剂和絮凝剂。对粒度和双电层失真进行自动校正。该仪器的软件易于使用，通用性强，非常适用于科研及工厂的优化控制。

典型应用：

综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。 

主要特点：

1)能分析多种分散物的混合体； 

2)无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点； 

3)可适用于高导电(highly conducting)体系； 

4)可排除杂质及对样品污染的干扰；

5)可精确测量无水体系； 

6)Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；

7)样品的**浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量； 

8)具有自动电位滴定功能；

优于光学方法的技术优势：

1)被测样品无需稀释； 

2)排除杂质及对样品污染的干扰； 

3)不需定标；

4)能分析多种分散物的混合体；

5)高精度；

6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um

优于electroactics方法的技术优势：

1)无需定标；

2)能测更宽的粒径范围； 

3)无需依赖Double Layer模式 

4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲； 

5)零表面电荷条件下也可测量粒径； 

6)可适用于无水体系； 

7)可适用于高导电(highly conducting)体系；

优于微电泳方法的技术优势：

1)无需稀释，固合量高达60%； 

2)可排除杂质及对样品污染的干扰； 

3)高精度(±0.1mv)； 

4)低表面电荷(可低至0. 1mv)； 

5)electrosmotic flow不影响测量； 

6)对流(convection)不影响测量； 

7)可精确测量无水体系；

技术参数：

1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；

2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；

3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv);

4)零表面电荷条件下也可测量粒径； 

5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)； 

6)样品体积：30-230ml； 

7)PH范围：0~14;

8)电导率范围：0~10 s/m