凯戈纳斯仪器商贸(上海)有限公司
高级会员第6年 参观人数:307539
  • 参考报价:电议
    型号:Nanonics
    产地:
    在线咨询
  • 详细介绍:


    仪器种类:

     原子力显微镜

    样品台移动范围:

     170um*170um

    样品尺寸:

     直径<100mm;厚度<15mm

    定位检测噪声:

     XY<20nm;Z<0.3nm

    价格区间:

     200万-250万

    产地类别:

     进口仪器

    仪器简介:

    NANONICS IMAGING LTD. (以色列NANONICS有限公司)是业界将近场光学显微镜(NSOM)技术和原子力显微镜(AFM)相技术相结合的领头羊。公司成立于1997年,NANONICS是业界成立*久并且对此类系列产品经验*丰富的公司之一,其产品荣获过许多国际大奖。在强大的NSOM/AFM的整合操作系统的推动下,今天NANONICS继续以强大的优势和全面的系统领导着市场。NANONICS凭借着实力和品质,其产品涉足的领域从科研到工业,从生物学到半导体,从化学制品到无线电通讯,应用范围极其广泛。   

    低温NSOM/AFM拥有先进的系统设备、环境友好的样品反应室、化学药品和气体自动传送系统;还有nano-印刷术系统,给消费者提供一个**的系统配置选择。加上有AFM/NSOM/SEM的整合与AFM/NSOM/micro-Raman的整合系统这样强大的成象结合,可以让用户拥有**的实验平台来完成所有的材料表征应用。探针包括NSOM探针,micro-pipettes是检测热、电性能的,同时探针还可以提供气体和液体加样,这是Nanonics系列产品独有的功能,可以为提供用户在很小的范围内做原位反应等。NAONICS系统兼容可所有供应商提供的SPM探针。   

    Nanonics仪器设计的特点就是将不同的表征手段整合到一个平台,包括spm、微拉曼光谱、电镜、共聚焦显微镜、离子束、热分析、SHG等等都能实时或一起使用。For the first time ever, Nanonics Imaging Ltd. in its drive for integrated microscopic solutions has now been able to fully and transparently integrate these two worlds.    



    技术参数:

    1、扫描方式:针尖扫描
    2、分辨率: XY方向<5nm、Z方向<1nm
    3、扫描范围:

    每根单探针扫描范围30 微米 (XYZ方向)
    仅样品扫描器扫描范围100微米(XYZ方向)
    样品扫描器和单探针扫描器扫描范围130微米 (XYZ方向)
    样品扫描器和双探针扫描器扫描范围160微米(XY方向)
    4、扫描步进:70um扫描器<1nm、10um扫描器<0.1nm
    5、扫描器厚度:7mm;重量:75克
    6、**样品尺寸:半径16mm,另根据客户需求可以选配任何合理尺寸;

    **********探针**********

    **特点:所有的商业化的探针均适用于当前的Nanonics NSOM操作

    ※NSOM探针
    ※AFM探针
    ※研究超低弹性模量的AFM探针
    ※专用于深沟的AFM探针
    ※中空的AFM探针
    ※玻璃绝缘的AFM传感纳米线
    ※双线玻璃绝缘探针
    ※普通模式SPM探针

    **********操作模式**********

    ※NSOM反射模式
    ※NSOM透射模式
    ※NSOM收集模式和收集暂时场模式
    ※NSOM荧光模式
    ※NSOM-PL模式
    ※三维共聚焦成像(透射、反射、荧光)
    ※非接触式NSOM、液体(生物样品)NSOM

    **********Nanonics Analog控制器**********

    ※软件包-NT,Win95/98,XP兼容;
    ※实时图像显示,图像获取(高达8通道)及分析,3D处理;
    ※LabVIEW软件包拥有4通道的数据采集功能;

    主要特点:
    1、表面和材料科学
    微纳米结构表征、粗糙度、摩擦力、高度分布、自相关评估、软性材料的弹性和硬度测试
    2、生物应用
    液体中完整活细胞成像、细胞膜孔隙率和结构表征
    3、薄膜表征
    孔隙率分析、覆盖率、附着力、磨损特性、纳米颗粒、岛屿分布
    4、硬盘检查
    表面检查和缺陷鉴定、磁畴成像、摩擦力和磨损方式和读写头表征
    5、半导体制造中的测试
    高分辨率地定量结构分析以及掺杂浓度的分布等各种材料特征
    6、失效分析
    缺陷识别、电性测量和键合电极大摩擦特性等

    1、测试环境控制NSOM,至液氦温区和超高真空度

    2、环境控制操作与光学显微镜、微拉曼等完全兼容

    3、独有的电学及热学测量