2026年7月15-16日，第四届精密研磨抛光材料及加工技术发展论坛在无锡顺利举办。各界行业同仁齐聚一堂，聚焦精密抛光新材料、新工艺、新设备、新应用，围绕抛光材料国产替代、精密制程增效等议题展开深度研讨，共商行业发展新方向。

真理光学作为论坛赞助单位全程参与，依托自主研发的颗粒表征检测相关技术，为高端制造领域国产化、智能化发展提供可靠支撑。

共话行业难题，国产检测技术破局

真理光学专注颗粒表征仪器研发十余年，长期对接精密磨料与 CMP抛光液领域，深度贴合产业链各环节检测需求。为众多抛光材料、半导体、光学元件等头部厂商提供技术服务，并针对研发、中试、量产不同阶段搭建标准化完整解决方案。

公司业务不局限于仪器设备，同步配套工艺数据分析、上门调试、长期运维全流程服务，已协助多家企业完成进口设备替换，大幅缩短工艺优化周期，实现品质管控体系升级。

自研设备亮相，赋能精密质控

本次论坛，真理光学携核心设备与全套颗粒表征解决方案参与，现场展出LT3900激光粒度仪，凭借精准稳定的检测性能，收获众多行业同仁驻足咨询、深度交流。

结合高端制造品质管控需求，我们推出三大核心设备，包含LT3900激光粒度仪、PATlink系列在线激光粒度监控系统、Nanolink纳米粒度及Zeta电位分析仪，覆盖原料入库筛查、产线实时监测、浆料性能分析等关键工序，形成一站式全流程检测配套能力：

LT3900激光粒度仪适配超微粉体、精密磨料等各类精细原料检测，可精准测定纳米至微米级颗粒粒径分布，数据精准、重复性优异。可有效严控原料品质、优化生产制程，减少工件表面缺陷，广泛适配研发实验与量产质控场景。

PATlink系列在线激光粒度监控系统有效解决传统离线检测滞后、采样误差大等行业痛点，设备可直接对接生产线，实时监测流体浆料粒度动态变化，快速预警颗粒团聚、粒径异常等问题，无需停机采样，实现生产全流程智能化质控，显著提升量产稳定性、降低产品次品率。

Nanolink纳米粒度及Zeta电位分析仪专注纳米级精密检测场景，精准检测颗粒粒径与zeta电位，科学分析浆料分散性与胶体稳定性，有效改善超精密加工不均、表面瑕疵等行业难题，适配半导体晶圆、高端光学器件等高精尖生产场景，为工艺迭代优化提供可靠数据支撑。

持续创新攻坚，助推产业高端化

本次参展是真理光学助力精密研磨抛光产业国产化发展的重要实践。

未来，我们将持续聚焦颗粒表征核心赛道，迭代更高精度、智能化的国产检测设备，深化产学研协同创新，携手产业链同仁突破技术壁垒，助力国内超精密制造产业向高端化、自主化、精细化稳步迈进。