高分子材料微区成分分析用飞纳扫描电镜能谱一体机 Phenom ProX G7

产品简介

Phenom ProX G7 是飞纳推出的台式扫描电镜能谱一体机，集扫描电镜形貌观察与能谱元素分析功能于一体，可用于高分子材料微区成分分析、填料分布观察、颗粒识别以及缺陷区域检测。

在高分子材料研发和质量控制过程中，填料分散状态、异物来源、断面结构以及局部区域成分差异会影响材料性能。Phenom ProX G7 可通过扫描电镜获取材料表面及断面的微观形貌信息，并结合能谱分析对目标区域进行元素检测，为材料改性研究、失效分析和工艺优化提供数据支持。

设备电子光学放大倍数**可达 350,000 X，分辨率优于 6 nm，采用 CeB6 灯丝电子源，能够满足常规材料微观结构观察及微区成分分析需求。

Phenom ProX G7 适用于高校实验室、企业研发中心、第三方检测机构以及工业质量检测场景。设备支持高、低真空模式，标配背散射探测器和能谱探测器，并可选配二次电子探测器，实现形貌与元素信息综合分析。

产品特点

1. 电镜与能谱集成，实现形貌与成分同步分析

设备将扫描电镜成像与能谱分析功能结合，可在观察材料微观形貌的同时，对颗粒、填料、异物及缺陷区域进行元素分析。

2. 满足高分子材料微观结构观察需求

电子光学放大倍数**可达 350,000 X，分辨率优于 6 nm，可用于塑料、橡胶、薄膜等高分子材料断面结构及表面特征观察。

3. CeB6 灯丝电子源，稳定运行

采用 CeB6 灯丝，使用寿命优于 3000 小时，可满足实验室长期样品检测需求。

4. 多种测试模式，适应不同材料分析场景

支持高真空和低真空模式，可根据样品性质选择合适的观察条件，适用于不同类型高分子及复合材料样品。

5. 支持微区元素分析

标配背散射探测器和能谱探测器，可针对颗粒、异物、填料以及异常区域开展元素组成分析。

6. 台式结构设计，方便实验室部署

设备体积紧凑，适合高校科研实验室、企业研发部门及检测机构进行材料分析和质量控制。

应用领域

Phenom ProX G7 可应用于以下领域：

• 高分子材料微区成分分析

• 塑料材料断面观察

• 橡胶填料分布分析

• 复合材料结构研究

• 薄膜材料缺陷检测

• 颗粒及异物分析

• 材料失效分析

• 工业研发与质量控制

技术参数

常见问题

1. Phenom ProX G7 可以分析哪些高分子材料？

设备适用于塑料、橡胶、复合材料、薄膜材料等高分子样品，可用于观察材料断面结构、填料分布、颗粒状态及缺陷区域。

2. 是否可以进行元素分析？

可以。Phenom ProX G7 集成能谱探测功能，可对颗粒、异物、填料以及局部区域进行元素组成分析，辅助判断材料成分差异。

3. 该设备适合哪些检测场景？

设备可用于材料形貌观察、微区元素分析、颗粒异物分析、失效分析以及研发质量检测等应用。

4. 产品价格如何确定？

设备价格根据具体配置、探测器选项、能谱分析需求以及服务方案确定。用户可通过平台询价入口提交样品类型和测试需求，获取对应配置建议。

如需了解 Phenom ProX G7 在高分子材料微区成分分析中的应用方案、测试案例或设备配置，可通过平台留言提交样品信息与分析需求，获取进一步产品资料。