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  • 日立
    参考报价:1
    型号:AFM5300E
    产地:日本
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    参考报价:


     面议

    型号:

     AFM5300E

    品牌:

     日立

    产地:

     日本

    样本: 【暂无】信息完整度: 
    典型用户: 0

    仪器种类:

     原子力显微镜

    样品台移动范围:

     150mm*150mm

    样品尺寸:

     直径≤25mm,厚度≤10mm

    定位检测噪声:
    价格区间:
    产地类别:

     进口仪器

    AFM5300E是一款环境型原子力显微镜,它的环境控制单元可以使样品在大气中、真空中、溶液中等环境中进行测量。AFM5300E还具有高低温控制功能,可以检测温度对样品表面形貌和物理特性的影响。

    1. 环境控制功能(大气,真空,液体,温控等)

    AFM5300E能够实现高真空的测试环境,**限度减小样品表面吸附水对测试的影响,实现精确的物理特性测量。 真空环境下可以实现更大范围的温度控制。另外,新开发的『温度扫描功能』可监视样品Z方向的热胀冷缩,通过控制反馈信号,使悬臂在变温环境下连续测试样品表面的物理特性。
    (**3857581号、**3926638号)
    ●大气中 ●液体中 ●真空中 ●特殊气氛(流量控制)
    ●温度控制 加热?冷却(-120~300℃) 高温(室温~800℃)
    ●湿度控制(0~80%)
    ●外加磁场(水平、垂直、面内旋转、max 5000 Oe )

    2. 简便操作(综合型Holder Flange)

    通过采用『综合型Holder Flange开合功能』,样品和扫描器更換更为方便的同时,免去了以往环境型SPM的样品更換后的所需的光轴调整。 也省去测试模式切换时的支架更換环节。

    3. **的高性能

    采用了『Swing Cancel功能』,减轻了样品的浮动,降低了漂移。提高了纳米分析性能,提升了可信度。 漂移量:0.015nm/sec以下

    4. 通过减轻表面吸附水的影响,提高了电气性能的检测精度

    真空环境下减轻样品表面吸附的水分和污染物的影响,因而实现高分辨高灵敏的电学性能分析。