日立 |
参考报价:1 型号:AFM5300E
产地:日本 在线咨询
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参考报价:
面议 | 型号: | AFM5300E | |
品牌: | 日立 | 产地: | 日本 |
样本: | 【暂无】 | 信息完整度: | |
典型用户: | 0 |
仪器种类: | 原子力显微镜 | 样品台移动范围: | 150mm*150mm |
样品尺寸: | 直径≤25mm,厚度≤10mm | 定位检测噪声: | |
价格区间: | 产地类别: | 进口仪器 |
AFM5300E是一款环境型原子力显微镜,它的环境控制单元可以使样品在大气中、真空中、溶液中等环境中进行测量。AFM5300E还具有高低温控制功能,可以检测温度对样品表面形貌和物理特性的影响。
AFM5300E能够实现高真空的测试环境,**限度减小样品表面吸附水对测试的影响,实现精确的物理特性测量。
真空环境下可以实现更大范围的温度控制。另外,新开发的『温度扫描功能』可监视样品Z方向的热胀冷缩,通过控制反馈信号,使悬臂在变温环境下连续测试样品表面的物理特性。
(**3857581号、**3926638号)
●大气中 ●液体中 ●真空中 ●特殊气氛(流量控制)
●温度控制
加热?冷却(-120~300℃) 高温(室温~800℃)
●湿度控制(0~80%)
●外加磁场(水平、垂直、面内旋转、max 5000 Oe
)
通过采用『综合型Holder Flange开合功能』,样品和扫描器更換更为方便的同时,免去了以往环境型SPM的样品更換后的所需的光轴调整。 也省去测试模式切换时的支架更換环节。
采用了『Swing Cancel功能』,减轻了样品的浮动,降低了漂移。提高了纳米分析性能,提升了可信度。 漂移量:0.015nm/sec以下
真空环境下减轻样品表面吸附的水分和污染物的影响,因而实现高分辨高灵敏的电学性能分析。