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  • 日立
    参考报价:1
    型号:AFM5100N
    产地:日本
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  • 详细介绍:


    参考报价:


     面议

    型号:

     AFM5100N

    品牌:

     日立

    产地:

     日本

    样本: 【暂无】信息完整度: 
    典型用户: 0

    仪器种类:

     原子力显微镜

    样品台移动范围:

     150mm*150mm

    样品尺寸:

     直径≤35mm,厚度≤10mm

    定位检测噪声:
    价格区间:
    产地类别:

     进口仪器

    AFM5100N除了激光检测方式之外,全新的「自检测悬臂」,在保证高分辨表面形貌观察的同时,大大简化了AFM悬臂操作。

    ·         特点

    1. 简便的悬臂安装

    通常的悬臂是非常渺小而且很难操作,内部装有传感器的「自检测悬臂」比普通的AFM探针要大得多,容易拿取,安装非常简单方便。

    2. 不用调整激光光斑的自检测方式

    激光检测方式的探针需要调节激光光斑的位置,操作复杂,而采用自检测方式的「自检测悬臂」无需调节激光光斑。

    3. 精确的悬臂定位

    悬臂的机械结构,能够以俯视方式直接观察悬臂的位置,从而轻松调整样品的测量的位置。除此之外,更加尖锐的探针提高了分辨率。

    4. 方便的操作导航系统

    通过流程图形式的导航系统,任何人都可以轻松地进行高分辨表面测量。另外,通过设定样品的软硬度和凹凸系数等参数,能够简单确定测量条件。

    5. 紧凑的主机

    主机上包含减震台、隔音罩、光学显微镜等附件,安装紧凑,体积小巧。

    6. 优越的扩展功能

    通过激光检测方式,能够扩展各种各样的选配功能。另外,只要插拔一根电缆就能够切换成激光检测方式。