静态容量法比表面及孔径分布测定仪JW-BK技术参数如下：

主要功能：比表面及孔径分布测定仪可实行BET比表面（多点及单点）测试，Langmuir比表面测试，炭黑外

比表面测定，吸附、脱附等温曲线测定， BJH孔径分布、总孔体积和平均孔径测定；

真空系统：极限真空度6×10-2Pa

测量范围：比表面 ≥0.01M2/g 至无规定上限，孔尺寸 0.7~ 400nm ;

样品数量：比表面及孔径分布测定仪可同时测定1-4个样品；

测量精度：≤± 2% ；

压力控制：比表面及孔径分布测定仪高精度压力传感器，数字显示，精度 0.2%，独特的充气与抽气速度自

动控制系统

运行方式：高度自动化，智能化，长时间运行可以无人看管自行测试

测试时间：比表面及孔径分布测定仪多点BET法比表面平均每个样品15分钟，孔径分布测试、孔隙度测试平

均每个样品100分钟

测试气体：高纯氮气（不用氦气），氮气消耗量极小

吸附过程：JW-BK比表面及孔径分布测定仪样品不需要频繁从液氮杜瓦瓶中进出，液氮消耗极少

软件系统：比表面及孔径分布测定仪在Windows平台上，提供过程控制和数据采集、处理、报告系统，多种

测试方法可自由方便选择，在计算机屏幕上，同步显示吸、脱附，测试过程、可随时查看已完成部分的测

试数据；本机软件功能强大、界面友好、兼容性高、使用方便