北京精微高博比表面测试仪
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  • 精微高博
    参考报价:电议
    型号:JW-04
    产地:北京
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  • 详细介绍:


    静态容量法孔径分析仪JW-BK技术参数如下:

    主要功能:孔径分析仪可实行BET比表面(多点及单点)测试,Langmuir比表面测试,炭黑外

    比表面测定,吸附、脱附等温曲线测定, BJH孔径分布、总孔体积和平均孔径测定;

    真空系统:极限真空度6×10-2Pa

    测量范围:比表面 ≥0.01M2/g 至无规定上限,孔尺寸 0.7~ 400nm ;

    样品数量:孔径分析仪可同时测定1-4个样品;

    测量精度:≤± 2% ;

    压力控制:孔径分析仪高精度压力传感器,数字显示,精度 0.2%,独特的充气与抽气速度自

    动控制系统

    运行方式:高度自动化,智能化,长时间运行可以无人看管自行测试

    测试时间:孔径分析仪多点BET法比表面平均每个样品15分钟,孔径分布测试、孔隙度测试平

    均每个样品100分钟

    测试气体:高纯氮气(不用氦气),氮气消耗量极小

    吸附过程:JW-BK孔径分析仪样品不需要频繁从液氮杜瓦瓶中进出,液氮消耗极少

    软件系统:孔径分析仪在Windows平台上,提供过程控制和数据采集、处理、报告系统,多种

    测试方法可自由方便选择,在计算机屏幕上,同步显示吸、脱附,测试过程、可随时查看已完成部分的测

    试数据;本机软件功能强大、界面友好、兼容性高、使用方便;