北京精微高博比表面测试仪
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  • 精微高博
    参考报价:电议
    型号:JW-DX
    产地:北京
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  • 详细介绍:



    产品特点

    ***

    ***DX型仪器,不采用常规的脱附过程而采用吸附过程进行峰面积计算,完全避免了常温下样品可能脱附不完全带来的测试误差,非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料小比表面的测定;(**号20140320453.2)

    可升级性强

    DX型仪器标准配置对比法比表面测试功能,可升级为多点BET比表面测试型仪器;
    动态外置式4站真空加热脱气机,属选配设备,建议用户选配,亦可在今后随时添加

    典型分析实例

    1.小比表面样品测试
    -石墨负极材料

    小比表面1

    小比表面2

    分析站

    4个,每个样品独立进行吸附过程,实现了多样品的无干扰、无差异测试,完全保证每个分析站测试结果的平行性,重复性误差≤± 1.0%

    真空加热脱气

    选配。外置式4站真空脱气机,可同时进行4个样品的脱气预处理,配合比表面仪主机同时使用,可大大提高测试效率。**脱气温度400℃;(**号第2516757号)

    JW-TQD-4

    杜瓦瓶

    1L容量真空玻璃内胆杜瓦瓶,保温效果远远优越于金属内胆液氮杯;(**号第2509179号)


    防样品飞溅技术

    自主研发,设计内置式防飞溅单元,可有效防止粉体样品随流动气体流入仪器内部管路,可有效避免仪器受到污染

    DX软件

    典型分析实例

    2.多点BET比表面测试;

    DX多点1

    DX多点2