北京精微高博比表面测试仪
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  • 精微高博
    参考报价:电议
    型号:JW-DX
    产地:北京
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  • 详细介绍:


    性能参数

    型号JW-DX
    测试原理低温氮吸附,流动色谱法
    方法特色***技术。
    采用吸附峰,与静态容量法相同,四个样品独立测试,无干扰,信号峰尖锐,<10m2/g小比表面样品测试精度明显提高
    测试功能对比法比表面积测试;
    单点、多点BET比表面积测试
    测试气体高纯氮气(99.999%)+高纯氦气(99.999%)
    氮分压P/P0范围0.05-0.35 (多点BET)
    测试范围比表面积0.01m2/g至无已知上限,
    不适用于微孔材料检测
    重复精度炭黑标准样品≤± 1.0%;
    与静态容量法测试精度高度一致
    分析站4个
    测试效率对比法测试每个样品约需5min;
    多点BET测试每个样品约需25min
    主机规格长610mm×宽460mm×高680mm,重量约48Kg;
    推荐应用领域石墨、三元材料、磷酸铁锂、锰酸锂、钴酸锂等等电池正负极材料;
    医药辅料;
    金属粉末;
    金属氧化物粉末;
    稀土发光材料;
    纳米碳酸钙;
    等等
    脱气站标配同位3站,可同时进行三个样品的真空加热脱气;
    另可选配外置式4站真空加热脱气机;



    1.小比表面样品测试
    -石墨负极材料

    JW-D系列

    比表面积是表征微纳米粉体材料表面物性重要指标之一,常用的测定方法是氮吸附法。动态氮吸附法测定比表面积广泛应用于工业中生产线上产品的快速检测。精微高博公司***仪器JW-DX型动态吸附比表面测定仪,测试准确、高效,非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料、医药辅料等小比表面样品的测试。

    氮分压P/P0范围0.05-0.35

    比表面范围0.01m2/g-无上限

    炭黑标准样品重复精度±1%

    测试效率5min


    分析站

    4个,每个样品独立进行吸附过程,实现了多样品的无干扰、无差异测试,完全保证每个分析站测试结果的平行性,重复性误差≤± 1.0%

    真空加热脱气

    选配。外置式4站真空脱气机,可同时进行4个样品的脱气预处理,配合比表面仪主机同时使用,可大大提高测试效率。**脱气温度400℃;(**号第2516757号)


    杜瓦瓶

    1L容量真空玻璃内胆杜瓦瓶,保温效果远远优越于金属内胆液氮杯;(**号第2509179号)


    防样品飞溅技术

    自主研发,设计内置式防飞溅单元,可有效防止粉体样品随流动气体流入仪器内部管路,可有效避免仪器受到污染


    典型分析实例

    2.多点BET比表面测试;