16 年
金牌会员
已认证
ASAP系列仪器微孔分析时自由空间的测量
许多微孔材料（例如分子筛，活性炭等。）在进行自由空间测量时，由于暴露在He 气中几个小时，会将He 捕捉并保存在它们复杂的孔结构中，最终影响到分析低压区数据，在低压区出现S 型曲线。本文针对这种情况，给出了相应的解决方案，不仅罗列出相应的注意事项和需要采用的工具，还详细的描述了测试文件如何编辑和选择，并进行了举例说明。
美国麦克仪器 2015-11-13 | 阅读：4539
最新文章
更多 
锂枝晶短路风险如何预判？CFP与MIP双表征锂电隔膜孔结构差异
2026-07-23
使用TriStar 氪气配置测量药用粘合剂的比表面积
2026-07-08
药物片剂包衣质控｜体积、密度与孔隙率检测技术应用分享
2026-07-08
从岩芯到洋底：传统实验室仪器如何重新定义"现场"的边界？
2026-07-08
