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全自动比表面与孔隙度分析仪 TriStar II Plus重点
报价:面议
品牌: Micromeritics
产地: 美国
关注度: 11408
型号: TriStarIIPlus3030
核心参数

误差率:0.0001

分辨率:/

重现性:优于1%

仪器原理:静态容量法

分散方式:/

测量时间:约40分钟

测量范围:比表面积不低于0.01 m2/g

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产品介绍

高性能多通道全自动比表面与孔隙度分析仪TriStar II Plus

tristar-tristar.jpg

TriStar II Plus系列比表面与孔径分析仪硬件优势和软件特点

 

l独特的耐腐蚀不锈钢歧管设计,可用于高精度的气体管理

l长效杜瓦瓶设计,提供高达40h的连续温度控制

l可选氪气选配,用于极低的比表面测试

l直观的MicroActive软件使用户能够以交互方式分析等温线数据,更快地获得比表面与孔径数据

l用户自定义报告选项允许直接建模

l强大的Python编程语言,允许用户开发扩展TriStar II Plus系列软件标准报告库

l创新的仪器监控界面实时显示仪器性能指标和维护信息

l能够在碳微孔分析中同时应用CO2和N2吸附等温线通过NLDFT理论来计算全范围孔径分布

 

数据处理优势

 

lMicroActive交互式软件,可直接处理吸附数据,用户可通过简单的移动计算条,可得到新的结构信息。一键式访问重要的参数,让用户专注于结果,而不是参数

l交互式数据处理模式,有效减少使用对话框和达到指定计算参数的路径。用户能准确和有效地确定材料的比表面积和孔隙度

l可与压汞数据进行叠加(25个)

l可通过图形界面在BET,t-Plot,Langmuir,DFT等模型中选择数据范围

l报告编辑选项,允许用户自定义多达五份报告,可在屏幕上预览。每份报表都有总结、表格和图形信息

 

 

强大的软件功能,数据处理特性和仪器监控功能


用于TriStar II Plus系列的MicroActive软件


直观的MicroActive软件使用户能够以交互方式评估等温线数据,并减少获取表面积和孔隙度结果所需的时间,不需要生成报告便可查看结果。用户可以很容易的产生并调整BET比表面积变换图等计算结果;可方便快速的通过计算条选择数据点,计算所得到的数据结果可及时更新,并可在计算窗口内进一步细化使用的数据范围。

 

气体吸附数据和压汞数据叠加功能

 

TriStar II Plus系列比表面与孔隙度分析仪的MicroActive软件允许用户将压汞法得到的孔隙分布与气体吸附等温线得到的孔径分布图叠加。这种新的功能使得用户在一个软件中即可分析微孔、介孔和大孔分布。

 

包含Python编程语言

 

TriStar II Plus系列比表面与孔隙度分析仪的软件内嵌Python编程语言。用户可使用这种强大的脚本语言在仪器的应用中扩展标准报告库。

 

样品制备设备

 

Micromeritics仪器样品制备装置可为比表面和孔隙度分析制备样品。它使用流动气体或者抽真空并加热达到去除污染物的目的,例如样品表面或者孔隙中的水蒸汽和吸附气体。

 

比表面积和孔体积分析产生的数据质量在很大程度上取决于样品 表面的清洁度。Micromeritics仪器公司的样品制备装置可使用氦气、氮气、氩气和其他非腐蚀性气体。


更多信息,欢迎咨询。


Micromeritics 是提供表征颗粒、粉体和多孔材料的物理性能、化学活性和流动性的全球高性能设备生产商。我们能够提供一系列行业前沿的技术,包括比重密度法、吸附、动态化学吸附、压汞技术、粉末流变技术、催化剂活性检测和粒径测定。


公司在美国、英国和西班牙均设立了研发和生产基地,并在美洲、欧洲和亚洲设有直销和服务业务。Micromeritics 的产品是全球具有创新力的知名企业、政府和学术机构旗下 10,000 多个实验室的优选仪器。我们拥有专业的科学家队伍和响应迅速的支持团队,他们能够将 Micromeritics 技术应用于各种要求严苛的应用中,助力客户取得成功。


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麦克默瑞提克(上海)仪器有限公司为您提供Micromeritics全自动比表面与孔隙度分析仪 TriStar II Plus,全自动比表面与孔隙度分析仪 TriStar II Plus产地为美国,属于比表面积测定仪,除了全自动比表面与孔隙度分析仪 TriStar II Plus的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供全自动快速比表面积与孔隙度分析仪Gemini VII 2390、多站扩展式全自动快速比表面与孔隙度分析仪ASAP 2460、AutoPore V全自动压汞法孔径分析仪。
工商信息
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麦克默瑞提克(上海)仪器有限公司

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91310115569573698J

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