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美国麦克仪器公司提供多种粒度分析解决方案

对粒度分析来说,没有一种测试技术能够满足所有材料的应用需求,选择正确的测试方法是获得可靠数据的关键,美国麦克仪器公司提供多种测定颗粒数量以及粒度分布的仪器,对应不同的测试方法,满足不同的应用。

 

纳米粒度与Zeta电位解决方案-Nanoplus纳米粒度与Zeta电位仪

NanoPlus是独特的利用光子相关光谱法和电泳光散射技术测量粒度、Zeta电位和分子量的仪器。该仪器结构紧凑、易于使用、分析范围广、带有交互式软件和多个样品池,满足不同用户的应用。

·         三种型号可选:纳米粒度仪、Zeta电位仪,纳米粒度与Zeta电位仪

·         测量悬浮液样品粒度范围:0.1nm~12.3μm,浓度范围0.00001%~40%

·         测量悬浮液样品Zeta电位范围:无范围限制,浓度范围:0.001%~40%

·         可配备自动滴定仪以及多种样品池

 

费氏粒径解决方案-SAS全自动费氏粒径测试仪

麦克仪器SAS全自动费氏粒径测试仪,是由费氏95粒径仪(FSSS)发展和升级而来,空气渗透技术是公认的粉体样品比表面积(SSA)测试技术。使用该技术测定的SSA数据已经在多个行业广泛使用,例如:药物、金属涂料、颜料和地质等行业

·         粒径范围:0.2-75μm

·         设计生产费氏粒度数据,保证数据一致性

·         安装方便,实时数据显示

 

电阻法颗粒技术解决方案- ElzoneⅡ颗粒计数与粒度分析仪

ElzoneⅡ颗粒计数与粒度分析仪采用电阻法这种有效的颗粒粒度表征技术,适用于同时分析具有不同光学性质、密度、颜色和形状的颗粒样品可迅速、精确地检测精细颗粒材料的尺寸、数目、浓度以及质量。ElzoneⅡ被广泛应用于工业、生物、地质等粒度大于0.4μm的颗粒,具有极高的准确度和分辨率,操作非常简便。

·         测量范围:0.4到266μm,有机或者无机材料

·         可使用不同的导电液,不需要输入液体性质参数

·         无需事先获得材料性质参数(密度、折射率等)

·         全自动操作:启动、运行、关闭、检测并清除障碍物、冲洗和校准

·         CCD照相机可实时视频显示光圈

 

X光沉降粒度解决方案-SediGraph IIX光沉降粒度分析仪

结合成熟的SediGraph分析技术, SediGraph III通过对X-射线的吸收测量可以直接检测分离固体颗粒物的质量浓度,无需模型,仪器有很好的重复性、精确性和重现性。


美国麦克仪器  2015-04-20  |  阅读:1669
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