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美国麦克仪器公司将在国家纳米中心举办技术讲座

粒度与稳定性是决定胶体性质的两个参数,胶体的稳定性又与Zeta电位密切相关,在研究和生产过程中,我们需要测定Zeta电位来确定胶体的分散情况从而确定产品的性能。纳米粒度与Zeta电位仪是利用光子相关光谱法和电泳光散射技术测量粒度、Zeta电位和分子量的仪器,可广泛应用于涂料、饮料乳剂、化妆品、纺织品、微电子工业、制药行业等多个领域。

作为材料表征权威公司,我们一直致力于研发材料表征的最新方法与技术,为广大用户提供更精确、更广泛应用的测试技术。为了和大家分享我们最新的研究成果,美国麦克仪器公司定于420日在国家纳米科学中心举办题为“纳米亚微米颗粒表征技术简介:动态光散射(DLS)与电泳光散射(ELS”的技术讲座,我们诚邀您前来共同探讨、交流本行业的国际最新发展趋势。


研讨会时间:42013:30

地点: 国家纳米科学中心科研楼三楼会议室

地址:北京市海淀区中关村北一条11

主讲人:麦克默瑞提克(上海)仪器有限公司总经理许人良博士

会务联系人:郭锐

联系电话:021-51085884-807

技术讲座基本内容:

    纳米颗粒表征综述

    光子相关光谱PCS技术最新研究进展

    全新的Zeta电位测样技术

—如何测量浓溶液的Zeta电位?

—如何测量平整固体表面或薄膜的液固界面Zeta电位?

    粒度与Zeta电位的应用领域

 

主讲嘉宾简介:

     许人良博士现任麦克默瑞提克(上海)仪器有限公司总经理,从事颗粒特性研究和检测技术30多年,是该领域国际资深著名专家。他于1980年代在美国获得博士学位,并在2002年在美国获得MBA学位。

      

他已发表了基础理论研究和应用领域的科技文章100余篇;获得3项美国专利;研究成果在科学检索引用超过3000多次;在美国各大学和世界各地进行过学术讲座100多次;并著有颗粒表征中的权威著作《Particle Characterization: Light Scattering Methods》。现在担任众多专业期刊的评委;ISO, ASTM, IAB of PERC的委员会成员;为多项国际标准的起草者;被列为美国和世界名人榜。许人良博士经常活跃在中国国内学术领域,在多所大学进行科技讲座。现任上海华东理工大学兼职教授,上海师范大学兼职教授,沈阳科学技术学会特邀外国专家,与国际粉体监测与控制联合会理事。

 


美国麦克仪器  2015-04-08  |  阅读:1376
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