15 年
金牌会员
已认证
【邀请函】—颗粒、粉体、膜(P3)分析与表征技术上海研讨会
材料表征领域的领导者Micromeritics麦克仪器公司将举办《颗粒、粉体、膜(P3)的分析与表征技术研讨会》,分享国际领先的材料表征技术及实际应用,为用户的材料分析与表征提供完整性解决方案。诚挚邀请您出席本次研讨会!
时间:2019年9月19日全天
地点:上海浦东(待定)
费用:免费
内容:
颗粒、粉体、膜的特性与综述;
颗粒粒度分析:电阻法,X沉降法与亚筛分法
颗粒形态分析:动态图像法
颗粒粉体分析的样品制备:取样,缩样与分散
孔径分析:气液与液液孔径分析方法
粉体流动性分析
咨询电话:021-51085884-807
研讨会主要主讲人:
美国麦克仪器 2019-07-29 | 阅读:1300
最新动态
更多
线上分享:零长柱(ZLC)技术研究丙烷在沸石中的扩散
应用实例
2024-08-06
Micromeritics 加入马尔文帕纳科成为颗粒表征领域的全球领导者
公司动态
2024-07-19
探索电池性能的微观世界:麦克仪器电池材料孔隙率表征新方案
公司动态
2024-07-09
麦克仪器与您相约 CPHI 2024
公司动态
2024-06-19