 |
参考报价：电议 型号：
产地：法国 在线咨询
|
法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特
技术优势：
●高分辨率的相位图，**分辨率可达400ｘ300。
●具有直接测量高发散光束的能力
●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。
应用方向：
●激光束质量分析
●自适应光学
●光学元件表面测量
●生物成像
●热成像，等离子体表面物理
法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下：
型号 | SID4 | SID4-HR | SID4-DWIR | SID4-SWIR | SID4-NIR | SID4-UV | SID4 UV-HR |
孔径 | 3.6 × 4.8 mm2 | 8.9 × 11.8 mm2 | 13.44 × 10.08 mm2 | 9.6 × 7.68 mm2 | 3.6 × 4.8 mm2 | 7.4 × 7.4 mm2 | 8.0 × 8.0 mm2 |
空间分辨率 | 29.6 μm | 29.6 μm | 68 μm | 120 μm | 29.6 μm | 29.6 μm | 32 μm |
采样点/测量点 | 160 × 120 | 400 × 300 | 160 × 120 | 80 × 64 | 160 × 120 | 250 × 250 | 250 × 250 |
波长 | 400 nm ~ 1100 nm | 400 nm ~ 1100 nm | 3 ~ 5 μm ， 8 ~ 14 μm | 0.9 ~ 1.7 μm | 1.5 ~ 1.6 μm | 250 ~ 450 nm | 190 ~ 400 nm |
动态范围 | > 100 μm | > 500 μm | N/A | ~ 100 μm | > 100 μm | > 200 μm | > 200 μm |
精度 | 10 nm RMS | 15 nm RMS | 75 nm RMS | 10 nm RMS | > 15 nm RMS | 20 nm RMS | 10 nm |
灵敏度 | < 2 nm RMS | < 2 nm RMS | < 25 nm RMS | 3 nm RMS ( 高增益）< 1 nm RMS ( 低增益） | < 11 nm RMS | 2 nm RMS @ 250 nm， 2 μJ/cm2 | 0.5 nm |
采样频率 | > 60 fps | > 10 fps | > 50 fps | 25/30/50/60 fps | 60 fps | 30 fps | 30 fps |
处理频率 | 10 Hz ( 高分辨率) | 3 Hz ( 高分辨率) | 20 Hz | > 10 Hz ( 高分辨率） | 10 Hz | > 2 Hz ( 高分辨率） | 1 Hz |
尺寸 | 54 × 46 × 75.3 mm | 54 × 46 × 79 mm | 85 × 116 × 179 mm | 50 × 50 × 90 mm | 44 × 33 × 57.5 mm | 53 × 63 × 83 mm | 95 × 105 × 84 mm |
重量 | 250 g | 250 g | 1.6 kg | 300 g | 250 g | 450 g | 900 g |
