Scanning Microwave Impedance Microscopy，简称为sMIM，扫描微波阻抗显微镜，让您的AFM成为专业的电学显微镜！

50nm超高分辨率，~100nm内部电学探测，导体、半导体、绝缘体的广泛适用度，为您提供电导率、介电常数、掺杂浓度纳米级高灵敏度电学表征成像的解决方案。

Scan Wave™ 可应用于多种领域材料的研究和发展：微电子材料，铁电材料，工业材料，以及石墨烯、碳纳米管，2D半导体、纳米材料等新星材料等。

独立扫描模块，包括微波信号发生器、探针干涉模块、自主**同轴屏蔽探针、以及微波近场软件，可应用于各种AFM平台。

特殊MEMS结构探针，有效避免散杂磁场的干扰

·专业多功能自由切换电学显微镜测试功能体验

sMIM-C成像：介电常数、电容变化；

sMIM-R成像：电导率、电阻率变化；

dC/dV 振幅：载流子浓度；

dC/dV 相位：载流子类型+/- ；

dR/dV 振幅：相关损失系数；

dR/dV 相位：相关损失系数

·高精度电学测试，50nm分辨率；

·工业级高灵敏度、低噪音，“Hard stuff”材料电学测试不再是难题；

·可实现表面下成像、检测（>100nm)

·不同材料同步测量：导体、半导体、绝缘体、电介质都可以实现，不同的材料甚至分类都可以 在一次扫描中观测。

·简易操作：不需要样品特别处理，不需要将样品放置在导电或电流中，人性化软件设计，操作简单。

·接触和非接触模式多种扫描模式：即使在做力曲线，只要你想实现，就可以获得电学数据；