美国SVTA公司中国办事处
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  • 参考报价:电议
    型号:
    产地:美国
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  • 详细介绍:


    此在线CL系统是监控MBE生长过程的理想选择。

    CL可以放置在独立的观察窗位置。

    通过RHEED枪以及敏感的光学探测系统,CL可以实时提供材料组分的准确信息,并进行实时光学分析。

    部件有8''的前后移动容域度,避免与其他部件相互干扰。

    CL通过电子激发技术调节电子能量,可以检测较深的薄膜表面信息。

    与其配套的Windows软件操作系统,可以实现操作自动化及图谱分析。

    特点

    一个端口可以同时监测薄膜成分和光学分析

    掺杂水平信息

    部件可前后移动,使部件间相互干扰*小化

    全电脑控制及分析

    光谱范围

    200-900nm

    分辨率

    0.5nm

    探测器量子效率

    25%

    探测器输出

    10V/nW

    噪音等效

    <250V

    观察窗口

    2.75''CF

    外部尺寸

    9.0''X25.5''X10.1'' (22cm×65cm×26cm)

    腔室内尺寸

    1.25''×13.1'' (3.2cm×34cm)

    行程距离

    **8''(20.3cm)

    靶距离

    2''(5.1cm)

    电脑要求

    Windows 9X,2000,XP