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浪声 X射线荧光测厚仪 晓INSIGHT PCB、晶圆版
报价:面议
品牌: | |
产地: | 苏州 |
关注度: | 975 |
型号: | 晓INSIGHT PCB、晶圆版 |
核心参数
规格外形(长*宽*高):624×702×730mm
功率(kw):150W
重量(kg):120KG
产品介绍
镀层作为保证电子行业产品质量可靠性和稳定性的主要工艺,其厚度是产品质量的*重要保证因素,因此,对镀层厚度的质量控制/保证至关重要,X射线荧光(XRF)因为其非破坏性、测量快速、易于使用,已成为一种广泛使用的镀层厚度和成分测量技术。
晓INSIGHT专为微光斑和超薄镀层分析而设计,可提供极高的计数率,用于测量小于 50 µm 的特征上的纳米级镀层,并提供高精度的检测结果,同时保持较短的测量时间,这借助于其内部采用高强度毛细管光学系统和高灵敏度的检测器。帮助诸多的PCB、半导体等电子相关行业轻松应对超薄镀层带来的检测挑战,有效提高生产力,确保符合规范,以避免出现性能低下的风险以及与废料或返工相关的成本。
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工商信息
企业名称
苏州浪声科学仪器有限公司
企业类型
信用代码
91320505588479824A
法人代表
注册地址
成立日期
注册资本
有效期限
经营范围