旗舰款SDD传感器Ultim Max TLE，搭载于透射电子显微镜(TEM)，经过设计优化，提高了小束斑下的计数率，可表征原子尺度的元素信息。

这一性能是通过优化的晶体形状，100mm2大面积晶体，无窗结构，优化的机械设计和Extreme级电子元器件来实现的。

• 0.5 - 1.1srad的立体角

• 对低能量x射线的灵敏度可提高8倍

• 可在400,000cps的计数率下进行定量分析

在原位实验中，在高至1000°C的温度下采集谱图