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参考报价：电议 型号：TESCAN TIMA-X FEG(GM)
产地：欧洲 在线咨询
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| 二次电子图象分辨率 | 1.2nm @ 30keV | 放大倍数 | 1~1,000,000 x |
| 背散射电子图像分辨率 | 2.0nm @ 15keV | 加速电压 | 0.2~30 kV |
| 产地属性 | 欧洲 | 仪器种类 | 场发射 |
| 价格范围 | 500万-700万 |
TESCAN综合矿物分析仪（TIMA）是一款新型的自动矿物分析的扫描电子显微镜，适用于采矿和矿物加工行业。TIMA可以对块状、薄片或抛光切片样品进行自动矿产丰度分析、粒度解离分析、矿物组合分析和颗粒尺寸分析。
TIMA的应用范围很宽，包括矿石性质、工艺优化、修复、贵金属和稀土的寻找等。TESCAN的独特技术是基于一个完全集成的EDX系统执行快速的全光谱扫描。 SEM与EDX硬件的一体化技术提供了****的数据采集速度，进而得到快速、准确和可靠的结果。
TESCAN TIMA基于MIRA肖特基场发射或者VEGA钨灯丝扫描电子显微镜。MIRA镜筒的特殊设计（电子枪的恒真空与隔绝阀）提高了发射的稳定性和钨灯丝的使用寿命。该系统提供高真空模式为标准，低真空模式为选配。
大 样品室、由计算机控制的超快样品台、矿物样品支持器的特殊设计。样品台可以同时容纳7块直径**为30mm的样品。样品台内可放入直径25 mm至32 mm的样品。样品台有EDX/BSE校准标准、铂Faraday筒（BSE信号校准）与锰、 铜、 石英、碳和金元素（系统性能检查）。标准校准的元素可以根据客户要求定制。
配件：
二次电子探头
背散射电子探头
探针电流测量
压差式防碰撞报警装置
可观察样品室内部的红外线摄像头等，各种配件可供选择
