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  • 日立
    参考报价:1
    型号:AFM5500M
    产地:日本
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    参考报价:


     面议

    型号:

      AFM5500M

    品牌:

     日立

    产地:

     日本

    样本: 【暂无】信息完整度: 
    典型用户: 0

    仪器种类:

     原子力显微镜

    样品台移动范围:

     100mm*100mm

    样品尺寸:

     直径≤100mm,厚度≤20mm

    定位检测噪声:

     ≤ 0.04 nm (High-resolution mode)

    价格区间:
    产地类别:

     进口仪器

    1. 自动化功能

    • 高度集成自动化功能追求高效率检测

    • 降低检测中的人为操作误差



    2. 可靠性

    排除机械原因造成的误差

    大范围水平扫描

    采用管型扫描器的原子力显微镜,针对扫描器圆弧运动所产生的曲面,通常通过软件校正方式获得平面数据。但是,用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响,图片上经常发生扭曲效果。
    AFM5500M搭载了**研发的水平扫描器,可实现不受圆弧运动影响的准确测试。


    高精角度测量

    普通的原子力显微镜所采用的扫描器,在竖直伸缩的时候,会发生弯曲(crosstalk)。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。
    AFM5500M中搭载的全新扫描器,在竖直方向上不会发生弯曲(crosstalk) ,可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像



    3. 融合性

    亲密融合其他检测分析方式

    通过SEM-AFM的共享坐标样品台,可实现在同一视野快速的观察分析样品的表面形貌,结构,成分,物理特性等。

    •     通过分析AFM图像可以判断,SEM对比度表征石墨烯层的厚薄。

    •     石墨烯层数不同导致表面电位(功函数)的反差。

    •      SEM图像对比度不同,可以通过SPM的高精度3D形貌测量和物理特性分析找到其原因。

    与其他显微镜以及分析仪器联用正在不断开发中。